►技術特點

 --能夠測量小至1mm的晶體到或更大的樣品

 --各種樣品架及輸送夾具，用於線鋸、拋光等

 --側晶方向標記選項

 --SDCOM（小晶體樣品台式香蕉污视频下载單晶定向儀）無水冷卻

 --精可達0.01°(視晶體質量而定)

 --確定單晶的*晶格取向

 --使用Omega掃描方法的超高速晶體定位測量

 --氣冷式香蕉污视频下载管，無需水冷

 --適合於研究和生產質量控製

 --手動操作(沒有自動化選項)

晶體的方向是由反射位置決定的

►SDCOM可測材料

 --立方/任意未知方向：Si, Ge, GaAs, GaP, InP 

 --立方/特殊取向：Ag, Au, Ni, Pt, GaSb, InAs, InSb, AlSb, ZnTe, CdTe, SiC3C, PbS, PbTe, SnTe, MgO, LiF, MgAl2O4, SrTiO3, LaTiO3

 --正方：MgF2, TiO2, SrLaAlO4

 --六方/三角：SiC 2H, 4H, 6H, 15R, GaN, ZnO, LiNbO3, SiO2(石英)，Al2O3(藍寶石)，GaPO4, La3Ga5SiO14

 --斜方晶係：Mg2SiO4 NdGaO3

 --另可根據客戶的要求進一步選料 

適合多種材料

►行業應用
 

平麵方向的標記和測量

 --在晶圓片的注入和光刻過程中，需要平麵或凹槽作為定位標記。切割過程中，晶片必須正確地對準晶圓片上易於切割的晶格麵。因此，檢查平麵或缺口的位置至關重要。

 --為了確定平麵或缺口的位置，就需要測量平麵內的部件。由於Omega掃描法可以在一次測量中確定完整的晶體方位，基於此，便可以直接識別在平麵方向或檢查方向的單位或缺口。

 --SDCOM（小晶體樣品台式香蕉污视频下载單晶定向儀）通過旋轉轉盤，可以將任何平麵方向轉換成用戶的特定位置。在必須定義平麵方向的情況下，這可以大大簡化將標記應用到特定平麵方向的過程。