便攜式現場PID測試儀(電位誘發衰減)測試儀,適用於不同類型和尺寸的晶體矽組件,無需拆裝,測試時間在8小時之內(測量時間將少於8小時)。PIDcheck是與德國Fraunhofer CSP Halle合作開發的。
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