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  • 20236-11
    布魯克三維香蕉污视频下载顯微鏡在HTPB複合固體推進劑微觀結構研究中的作用

    固體推進劑是一種具有特定性能的含能複合材料,該材料是航天、空間飛信器等各種固體發動機的動力源,在**和航天技術發展中扮演著重要角色。其中複合固體推進劑是以高聚物為基體。混油氧化劑和金屬燃料等組分的多相混合物。作為一種高顆粒填充比的含能材料,其宏觀性能與微觀結構緊密相關。近些年隨著對複合固體推進劑研究的不斷深入,原有的微觀結構表征方法或由於隻能表征二維表麵信息,或由於分辨率精度的限製,已不能適應該領域研究的更高要求,在這種背景下,三維香蕉污视频下载顯微鏡(3DXRM)憑借能夠在無損研究...

  • 20236-11
    微型模組分類|電池片PID測試儀PIDcon bifacial

    台式係統PIDcon可以對微組模塊進行常規質量控製,作為一種快速和低成本的PID敏感性測試,不需要氣候室或其他擴張性工具。小型模組分類電位誘導衰減(PID)是光伏電站的一個嚴重的可靠性問題。因此,調查其產品對PID的敏感性是很重要的。PIDcon的目的是使生產商能夠在生產鏈的早期測試他們的產品,例如在微型模塊上。請注意,這裏考慮的PID是由於高電壓應力引起的漏電電流(PID-s)導致的太陽能電池的分流。迷你模塊通過2個接觸點進行接觸,並通過接觸檢查確保良好的接觸。PIDStu...

  • 20236-11
    MDP少子壽命測試儀 | 鐵濃度測定

    有了MDPingot和MDPmap係列,就可以全自動地測量磚塊和矽片中的鐵濃度,而且分辨率非常高。鐵硼對解離前後的壽命測量是一種**使用的測定矽片中鐵的方法。在高摻雜濃度的摻硼矽中,因為它被用於光伏應用,幾乎100%的電活性鐵以FeB對的形式存在。在有足夠能量的光照下,這些鐵對可以在Fe和B中解離。這個過程是可逆的,在一段時間後,所有的FeB對都會再次結合。FeB和Fei有不同的重組特性,因此解離對測量的壽命有影響。在這種影響下,鐵的濃度可以通過以下方式確定:對於鐵的測定,使...

  • 20236-7
    德國弗萊貝格-太陽能電池分類| 電池片PID測試儀PIDcon bifacial

    太陽能電池分類:圖一:帶EVA箔和玻璃的太陽能電池放置在PIDcon中電位誘導衰減(PID)是光伏電站的一個嚴重的可靠性問題。因此,調查其產品的PID敏感性是很重要的。PIDcon的目的是使生產商能夠在太陽能電池的生產鏈中盡可能快地測試他們的產品,並調查封裝材料。因此,太陽能電池及其SiNx層的影響可以立於EVA和玻璃的影響進行研究。請注意,這裏考慮的PID是太陽能電池由於高電壓應力引起的漏電電流(PID-s)而產生的分流。為了對太陽能電池進行分類,使用敏感的EVA和玻璃是很...

  • 20236-7
    德國弗萊貝格|台式PID檢測儀用於EVA及其它封裝材料的評估

    EVA評估不同的EVA薄膜與來自同一批次和同一玻璃的太陽能電池的比較PIDcon的測量設置PIDcon可以通過使用一個模擬模塊的樣品堆來調查EVA箔對PID敏感性的影響。用戶隻需將太陽能電池、需要調查的EVA箔和玻璃放在上麵。當然,必須使用同一批次的太陽能電池和同一玻璃進行比較。在圖1所示的例子中,兩種EVA薄膜的PID敏感度有明顯的差異。EVA1比EVA2更適合用於模塊。

  • 20236-7
    德國弗萊貝格-生產監控|電池片PID測試儀PIDcon bifacial

    根據IEC62804標準PIDcon的測量設置PIDcon測量的典型結果電勢誘導退化(PID)是光伏電站的一個嚴重的可靠性問題。因此,調查其產品的PID敏感性是很重要的。PIDcon的目的是使生產商能夠在生產鏈中盡早地測試他們的產品,並調查封裝材料。PIDcon允許對標準生產單元進行常規質量控製,測試新工藝、材料或層的變化,並對各種模塊步驟進行鑒定。請注意,這裏考慮的PID是由於高電壓應力引起的漏電電流(PID-s)導致的太陽能電池的分流。PIDcon的結構實際上與IEC標準...

  • 20236-7
    德國弗萊貝格PIDcon bifacial|雙麵電池的可逆與不可逆PID快速測試解決方案

    論文來源:K.Sporlederetal.,QuicktestforreversibleandirreversiblePIDofbifacialPERCsolarcells部分摘要:雙麵PERC電池背麵PID會導致嚴重的功率損失。與單麵PERC太陽能電池相比,可以發生可逆的去極化相關電位誘導衰退(PID-p)和不可逆的腐蝕電位誘導衰退(PID-c)。研究表明,一個可靠的評估太陽能電池功率損失的方法需要一種改進的PID測試方法,需要在高壓測試上附加光照。此外,還需要在測試方案中...

  • 20234-8
    衍射數據庫卡片是晶體學教育和交流的重要途徑

    衍射數據庫卡片又稱為晶體結構卡片或者晶胞卡片,是一種用於描述晶體結構信息的標準化格式。這些卡片通常包含著晶體學家在分析晶體時所得到的重要數據,例如晶格參數、空間群、原子坐標等等。衍射卡片可以作為研究晶體結構的基礎,也可以作為共享晶體結構信息的重要途徑。衍射數據庫卡片最初由國際晶體學聯合會(IUCr)於1965年提出,並於1985年進行了更新。目前有多個常用的衍射卡片標準,包括CIF(CrystallographicInformationFile)、PDB(ProteinDat...

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